XPS
Espectroscopía de Fotoelectrones de Rayos X — Staib Instruments
Capacidades y Mediciones
- ›Composición química y estados de oxidación de la superficie de materiales sólidos: compuestos inorgánicos, semiconductores, cerámicos, aleaciones metálicas y biomateriales.
- ›Control de calidad de procesos.
- ›Análisis de contaminantes.
- ›Análisis cualitativo de la composición química de la superficie de la muestra.
- ›Caracterización de nanomateriales, películas delgadas y polímeros.
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✓Requisitos de Ingreso
- Masa requerida: entre 0,5 a 1 gramo.
- Muestra seca.
- Muestra representativa y correctamente rotulada.
!Limitaciones Técnicas
- Solo análisis de superficie (profundidad de análisis ~10 nm).
- Agregar límite de detección — pendiente de confirmación técnica.
- Consultar disponibilidad de agenda.