Microscopía Electrónica de Barrido de Emisión de Campo FE-SEM
Hitachi SU5000
Capacidades y Mediciones
- ›Obtención de imágenes morfológicas.
- ›Mapeos elementales.
📦
✓Requisitos de Ingreso
- Muestra seca.
- Muestra representativa y correctamente rotulada.
!Limitaciones Técnicas
- Detecta elementos desde el Na.
- Consultar disponibilidad de agenda.