FE-SEM
Microscopía Electrónica de Barrido de Emisión de Campo — Hitachi SU5000
Capacidades y Mediciones
- ›Obtención de imágenes morfológicas de alta resolución (hasta 1,2 nm @ 30 kV, emisor Schottky FE).
- ›Mapeos elementales (EDS).
- ›Detección de elementos desde el Na.
📦
✓Requisitos de Ingreso
- Muestra seca.
- Muestra representativa y correctamente rotulada.
!Limitaciones Técnicas
- No detecta elementos más livianos que el Na.
- Consultar disponibilidad de agenda.